Laboratoř nanometrologie

Laboratoř se zabývá bezkontaktním, nedestruktivním zkoumáním povrchů materiálů, k čemuž se využívá mimo jiné AFM a SEM mikroskopie, interferometrie. Hlavními cíli jsou získání topografie, lokální spektroskopie a fluorescence polovodičových povrchů.

Přístrojové a technické vybavení laboratoře

Optický spektrální analyzátor

ROHDE & SCHWARZ ADCMT 8341.

V rámci proběhlého výběrového řízení byl zakoupen optický spektrální analyzátor vyrobený firmou ROHDE & SCHWARZ model ADCMT 8341. Optický analyzátor se používá pro měření vlnové délky a optického výkonu z více vlnových délek optického signálu. Tento přístroj umožňuje rychlé a přesné testování laserových diod. Optický spektrální analyzátor 8341 je založen na principu Michelsonova interferometru a nabízí nejrychlejší měření s intervalem pouhých 0,5 s. Model 8341 je kompaktní laboratorní přístroj vybaven přehledným displejem a všechny potřebnými běžnými rozhraními.

Optický spektrální analyzátor bude používán pro měření spektrálních charakteristik dle rozložení výkonu v optickém spektru např. u laserových diod a jiných prvků využívajících stejný fyzikální princip.

Optický spektrální analyzátor

 

Optický spektrální analyzátor

Optický spektrální analyzátor ROHDE & SCHWARZ ADCMT 8341

FT-NIR spektrometr 

FTIR spektrometr Nicolet 8700.

FTIR spektrometr Nicolet 8700 je variabilní spektrometrický systém vhodný pro nejširší škálu analytických aplikací. Jeho mimořádné optické vlastnosti jsou dány spojením nejnovější řídící technologie DSP (Digital Signal Processing) s vnitřní inteligencí a jedinečným uspořádáním optické lavice. Interferometr Vectra-Piezo umožňuje systému Nicolet 8700 spektrální rozlišení 0.09 cm-1. Speciální konstrukce interferometru, vyvinutého původně pro letecké síly americké armády, zabezpečuje jeho bezporuchovost.

Pozorovaná spektra poskytují údaje o druhu chemických vazeb vyskytujících se v materiálu, a tak slouží přímo k identifikaci jednotlivých složek ve zkoumané látce. Zejména je FT-IR spektroskopie vhodná pro určování a strukturní charakterizaci organických látek; lze ji však použít i pro látky anorganické. Na rozdíl od dielektrické relaxační spektroskopie jsou pozorovaná maxima velice úzká, což podstatně zjednodušuje jejich analýzu. Analýza se zpravidla provádí srovnáním pozorovaného infračerveného spektra s knihovnou (databází) již identifikovaných píků (maxim). 

Zakoupený přístroj je velmi výhodný na diagnostiku polymerních materiálů a kompozitů a značně rozšířil možnost diagnostikovat velmi malé polární či nepolární vazby. Tato analýza je pak nutná k pochopení fyzikálních parametrů materiálů. Tento přístroj je nejvíce vyžíván k diagnostice jednotlivých vrstev solárních článků, které jsou v současné době ve fázi vývoje.

FT-NIR spektrometr

 

FT-NIR spektrometr

FTIR spektrometr

Odpovědná osoba